В работе научно-практической конференции примут участие специалисты, использующие оборудование для СЗМ, глубоко понимающие возможности и ограничения этого нового исследовательского подхода.

• Подробная информация доступна только для зарегистрированных пользователей.
  Войдите в систему или зарегистрируйтесь

Состоится региональная научно-практическая конференция: «Сканирующая зондовая микроскопия в промышленности: возможности, ограничения, интеграция с другими методическими подходами».
Модернизация промышленных производств требует новых подходов к парку инструментов измерения и контроля. Главный тренд в развитии метрологического оборудования состоит в переходе от предельных разрешений оптических методов (0,2-0,5 мкм) к масштабу линейных размеров в сотни, десятки и единицы нанометров. Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) сегодня является наиболее распространенным методом для измерения линейных размеров в диапазоне 10-9 – 10-6 м.
Основные направления конференции:
1. Компактная лабораторная диагностика (серийное измерение типовых образцов)
2. Дефектоскопия, неразрушающий контроль в условиях производственных предприятий.
3. Сложные современные лабораторные комплексы для исследования поверхностей.
В работе научно-практической конференции примут участие специалисты, использующие оборудование для СЗМ, глубоко понимающие возможности и ограничения этого нового исследовательского подхода.
Модератор Конференции: Голубок Александр Олегович, заместитель директора ИАП РАН, заведующий кафедрой Нанотехнологий и материаловедения НИУ ИТМО.
Организатором конференции является «Инженерный Клуб»
Генеральным партнером Конференции: ФБУ «Тест-С.-Петербург»
Официальный Партнер Конференции: ЗАО «НТ- МДТ»

К участию в конференции приглашаются представители промышленных предприятий, научно-исследовательских институтов, ВУЗов Санкт-Петербурга.